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阻抗測(cè)試儀的基本原理分析
發(fā)布時(shí)間:2025-04-01

      阻抗測(cè)試儀是一種能夠測(cè)量復(fù)數(shù)電阻抗隨頻率變化的儀器。它的原理是通過(guò)相敏檢測(cè),同時(shí)測(cè)量器件在掃頻測(cè)試過(guò)程中的電流和電壓。測(cè)試儀的主要參數(shù)分別是頻率范圍,阻抗范圍,阻抗幅值的精度和相位精度。更進(jìn)一步的還包括測(cè)量速度,以及在測(cè)試中施加電壓或者電流偏置的功能。

      阻抗測(cè)試儀測(cè)得的阻抗包含阻抗幅值,實(shí)部,虛部,以及由電壓和電流造成的相位(差)。根據(jù)等效電路模型,一些阻抗參數(shù)包括電導(dǎo),電感和電容,即可被輕松的計(jì)算并顯示出來(lái)。

      測(cè)試儀一般能夠提供高精度的阻抗測(cè)量,比如0.05%的基本精度,從μHz到GHz的頻率范圍,從μΩ 到 TΩ的幅值范圍, 同時(shí)還有10 mdeg 的相位精度。

      與測(cè)試儀相比,LCR測(cè)試儀也提供了阻抗測(cè)量的功能。一般來(lái)說(shuō),它的精度比較接近阻抗分析儀,但是頻率范圍較低。同時(shí),LCR測(cè)試儀只能測(cè)量固定頻率下的阻抗,不能掃頻,也不能圖形化顯示測(cè)量結(jié)果。